當(dāng)晶振晶體沒(méi)有信號(hào)輸出怎么辦?
來(lái)源:http://www.sqlianchuang.cn 作者:泰河電子技術(shù)部 2018年09月12
眾所周知,晶振是屬于電子產(chǎn)品里的一個(gè)小配件,早期的晶振產(chǎn)品塊頭大,應(yīng)用到各式的大型數(shù)碼產(chǎn)品上面,但隨著便攜式的潮流,電子產(chǎn)品也改朝換代了,晶振產(chǎn)品也越來(lái)越小型化,米粒般大小的石英晶振有見(jiàn)過(guò)嗎?比米粒還小的呢?晶振雖然是很小的一個(gè)電子產(chǎn)品,但在電路板上卻起著巨大的作用.它可以給控制系統(tǒng)提供一個(gè)完整的時(shí)鐘信號(hào),使各項(xiàng)電子產(chǎn)品功能可以正常使用.在各種定時(shí)開關(guān)功能中可以發(fā)揮正常工作.也可以給主板提供精準(zhǔn)的頻率信號(hào),使IC系統(tǒng)功能正常使用.若是在石英晶振使用過(guò)程中發(fā)現(xiàn)晶振沒(méi)有信號(hào)輸出,罷工了怎么辦?泰河電子技術(shù)人員給出了以下幾點(diǎn)方案給大家參考使用.
1.先用示波器或者頻率計(jì)測(cè)量晶體兩端的信號(hào)輸出,如果沒(méi)有信號(hào)輸出,請(qǐng)按以下等效電路測(cè)試圖執(zhí)行檢查.如果晶體的外端(Xout)有信號(hào)輸出,但是沒(méi)有信號(hào)從內(nèi)端輸出,按照以下方式再進(jìn)行檢測(cè).
Cd和Cg是晶振外部負(fù)載電容,它們已經(jīng)建立在芯片中形成晶片組.RF是具有200KΩ~1MΩ的反饋電阻.它一般內(nèi)置在芯片組中.RD是470Ω~1KΩ的限幅電阻.這種電阻對(duì)于普通電路不是必需的,但僅適用于具有高電源的電路.穩(wěn)定的振蕩電路需要負(fù)電阻,其值應(yīng)至少是晶體電阻的五倍.它可以寫成|-R|>5 Rr.例如,為了獲得穩(wěn)定的振蕩電路,當(dāng)晶體電阻值為40Ω時(shí),集成電路的負(fù)電阻值必須低于-200Ω.
“負(fù)電阻”是衡量振蕩電路質(zhì)量的標(biāo)準(zhǔn)。在某些情況下,如老化、熱變化、電壓變化等,如果“Q”值低,電路可能不振蕩。因此,根據(jù)下面的指令測(cè)量負(fù)電阻(-R)是非常重要的:
如果晶振產(chǎn)品的參數(shù)正常,但它在振蕩電路中不能穩(wěn)定的工作,我們必須查清IC的電阻值是否因?yàn)樘投荒茯?qū)動(dòng)電路.如果是這樣的情況,我們可以用以下四種方法來(lái)改善這種情況.
<1>降低外部電容值(CD和CG),并采用其它負(fù)載較低的電容器(CL).
<2>采用具有低電阻(RR)的晶體.
<3>在振蕩過(guò)程中測(cè)量R的值.
<4>使用CD和CG不等值的設(shè)計(jì),通過(guò)增加CD(Xout)的負(fù)載電容,降低CG的負(fù)載電容,可以提高其后端電路的波形幅度輸出.
2.將水晶卸下,并測(cè)試其頻率和負(fù)載電容,看看他們是否會(huì)振動(dòng),并符合您的規(guī)格使用專業(yè)測(cè)試機(jī).如果自己沒(méi)有儀器的話,可以將產(chǎn)品寄給你的供應(yīng)商,讓他們?yōu)槟銣y(cè)試.
3.如果晶振不振動(dòng),不工作,負(fù)載電容不符合您的規(guī)格,或者電流頻率與您的目標(biāo)頻率之間存大巨大差距,請(qǐng)將貼片晶振產(chǎn)品發(fā)回給您的供應(yīng)商進(jìn)行質(zhì)量分析.如果頻率和負(fù)載電容參數(shù)符合所需要求,我們將要進(jìn)行等效電路測(cè)試.
1.先用示波器或者頻率計(jì)測(cè)量晶體兩端的信號(hào)輸出,如果沒(méi)有信號(hào)輸出,請(qǐng)按以下等效電路測(cè)試圖執(zhí)行檢查.如果晶體的外端(Xout)有信號(hào)輸出,但是沒(méi)有信號(hào)從內(nèi)端輸出,按照以下方式再進(jìn)行檢測(cè).
等效電路測(cè)試圖
通常微處理器的振蕩電路來(lái)源于上面等效電路測(cè)試圖.Cd和Cg是晶振外部負(fù)載電容,它們已經(jīng)建立在芯片中形成晶片組.RF是具有200KΩ~1MΩ的反饋電阻.它一般內(nèi)置在芯片組中.RD是470Ω~1KΩ的限幅電阻.這種電阻對(duì)于普通電路不是必需的,但僅適用于具有高電源的電路.穩(wěn)定的振蕩電路需要負(fù)電阻,其值應(yīng)至少是晶體電阻的五倍.它可以寫成|-R|>5 Rr.例如,為了獲得穩(wěn)定的振蕩電路,當(dāng)晶體電阻值為40Ω時(shí),集成電路的負(fù)電阻值必須低于-200Ω.
“負(fù)電阻”是衡量振蕩電路質(zhì)量的標(biāo)準(zhǔn)。在某些情況下,如老化、熱變化、電壓變化等,如果“Q”值低,電路可能不振蕩。因此,根據(jù)下面的指令測(cè)量負(fù)電阻(-R)是非常重要的:
1. 將電阻(R)與晶體串聯(lián)
2. 從振蕩的起點(diǎn)到停止點(diǎn)調(diào)節(jié)R的值。
3. 在振蕩過(guò)程中測(cè)量R的值。
4. 你可以得到負(fù)電阻值,即|-R|=R+Rr,Rr=晶體電阻。
當(dāng)Xout有信號(hào)輸出但不是新的時(shí),說(shuō)明后電極后端電路的功耗非常巨大,我們可以在電路的輸出端和后端電極之間加一個(gè)緩沖器來(lái)驅(qū)動(dòng)后端電路.2. 從振蕩的起點(diǎn)到停止點(diǎn)調(diào)節(jié)R的值。
3. 在振蕩過(guò)程中測(cè)量R的值。
4. 你可以得到負(fù)電阻值,即|-R|=R+Rr,Rr=晶體電阻。
如果晶振產(chǎn)品的參數(shù)正常,但它在振蕩電路中不能穩(wěn)定的工作,我們必須查清IC的電阻值是否因?yàn)樘投荒茯?qū)動(dòng)電路.如果是這樣的情況,我們可以用以下四種方法來(lái)改善這種情況.
<1>降低外部電容值(CD和CG),并采用其它負(fù)載較低的電容器(CL).
<2>采用具有低電阻(RR)的晶體.
<3>在振蕩過(guò)程中測(cè)量R的值.
<4>使用CD和CG不等值的設(shè)計(jì),通過(guò)增加CD(Xout)的負(fù)載電容,降低CG的負(fù)載電容,可以提高其后端電路的波形幅度輸出.
2.將水晶卸下,并測(cè)試其頻率和負(fù)載電容,看看他們是否會(huì)振動(dòng),并符合您的規(guī)格使用專業(yè)測(cè)試機(jī).如果自己沒(méi)有儀器的話,可以將產(chǎn)品寄給你的供應(yīng)商,讓他們?yōu)槟銣y(cè)試.
3.如果晶振不振動(dòng),不工作,負(fù)載電容不符合您的規(guī)格,或者電流頻率與您的目標(biāo)頻率之間存大巨大差距,請(qǐng)將貼片晶振產(chǎn)品發(fā)回給您的供應(yīng)商進(jìn)行質(zhì)量分析.如果頻率和負(fù)載電容參數(shù)符合所需要求,我們將要進(jìn)行等效電路測(cè)試.
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